文件名称：微胶接装配中胶接区表面结构实验 (2007年)
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更新时间：2024-06-20 02:39:36
自然科学 论文
微胶接技术非常适用于微机电系统产品的自动化装配过程。微胶接装配质量容易受到2个因素的影响,即胶滴体积的不稳定和胶滴的扩散。为了解决该问题,对微胶接装配中的胶接区表面结构进行了研究。提出2种表面结构:基本的凹槽结构和胶滴自居中结构,并进行实验。实验结果表明,凹槽结构对胶滴体积具有一定的“容错性”,可以有效克服胶滴体积的不稳定和胶滴的扩散对微胶接装配质量的影响;自居中结构使得胶滴在凹槽内具有“自居中”的特性,可以减轻微装配系统定位误差对装配质量的影响。这2种表面结构可用于通用微机电系统产品的装配中,以提高微胶