交流阻抗谱法研究高压下CdSe的电学性质 (2014年)

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文件名称：交流阻抗谱法研究高压下CdSe的电学性质 (2014年)
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更新时间：2021-05-15 18:20:18
自然科学 论文 利用集成在金刚石对顶砧上的测量微电路研究了CdSe粉末在高压条件下的交流阻抗谱，在低于2.8 GPa时显示出两个交叠的半圆弧，在高于2.8 GPa时显示出一个不完整的半圆弧和一个压缩的半圆弧，这表明在高压条件下CdSe粉末中始终存着两个电传导过程，分别对应于晶体内传导过程和晶界传导过程．运用等效电路法我们获得了CdSe晶体体电阻随压力的变化关系，分别在2.8 GPa，10.0 GPa和17.0 GPa附近观察到了体电阻的异常变化，这些异常变化源于CdSe在高压条件下的结构相变和电子相变．