导带弯曲对有限深GaN/Ga1-xAlxN球形量子点中杂质态的影响及其压力效应* (2013年)

时间:2021-06-13 07:03:22
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文件名称:导带弯曲对有限深GaN/Ga1-xAlxN球形量子点中杂质态的影响及其压力效应* (2013年)
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更新时间:2021-06-13 07:03:22
自然科学 论文 用三角势近似界面导带弯曲,采用变分理论研究了流体静压力影响下有限高势垒GaN/ Ga1-xAlxN球形量子点中杂质态的结合能,计算中考虑了电子有效质量,电子面密度,介电常数以及禁带宽度随流体静压力的变化,数值计算结果表明,随着电子面密度的增加,杂质态结合能降低,当电子面密度较大时,随着量子点尺寸的增大,结合能最终趋于一个相同的值,同时发现随着压力的增加,在O到10GPa范围内,施主杂质态的结合能随压力变化呈线性增加的趋势,此变化趋势对于小量子点更显著,另外,随着铝组分的增加结合能相应的增加,此变化趋势对于

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