文件名称：时间相关单光子计数记录快速荧光寿命图像 (2008年)
文件大小：2.6MB
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更新时间：2024-06-10 02:38:26
工程技术 论文
基于时间相关单光子计数（TCSPC）的荧光寿命成像（FLIM）的获取时间取决于成像的图像尺寸、样品寿命的精度及样品计数率。对于高密度荧光团样品，如染色组织或植物细胞，当前可用的样品计数率与TCSPC荧光寿命成像技术最高的计数率接近。该文描述了在高计数率下TCSPC性能，并估计计数损失及堆积效应。结果表明，整个体系的寿命误差比预料的要小。因此，TCSPC FLIM可在获取时间低于1s的情况下记录寿命图像。为增加FLIM时间序列记录，利用存储交换技术，在采集下一个光子期间读取正在记录的数据，使用两个平行TCS