文件名称：光点测试中的光点修复方法研究 (2004年)
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更新时间：2024-06-15 19:48:21
自然科学 论文
针对在荫罩式彩色CRT器件的光点测试中，金属荫罩截获阴极束电流形成荧光屏上光点图像残缺，器件测试人员因此无法了解真实光点全貌，提出了一种有效的解决方案。该方案基于微分原理，采用脉冲偏转微移动法实现电子束在小区间内的线性偏转，并同步采集屏上的光点信息，利用必要的图像处理技术，将多次采集到的残缺光点信息依次叠加，修复成为完整的原始光点。该方案应用灵活，成本低廉，修复效果较好，测量精度较高，适用于对各种尺寸彩色CRT器件性能及显示图像质量的评价。