文件名称：基于外部RAM的ARM异常程序调试技术 (2012年)
文件大小：681KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-07-06 05:15:13
自然科学 论文
在阐述ARM中异常处理的基本思想以及基于JTAG进行调试的基本原理的基础上,详细分析了目前各种基于外部RAM的ARM异常程序调试技术的原理和特点.通过对比各种调试技术的适用性和优缺点,结合目前嵌入式系统开发过程中常用的ARM芯片和集成开发工具,提出一种新的在外部RAM中调试含有异常处理代码的ARM程序的调试技术,并通过实验验证了其有效性.