文件名称：空穴掺杂Sr2 FeMoO6的输运性质研究* (2013年)
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更新时间：2024-06-07 01:39:54
工程技术 论文
采用扫描电子显微镜和四探针技术研究了空穴掺杂系列样品Sr2-xKr，FeMoO6(0≤x≤0．04)的输运性质。结果表明，空穴掺杂提高了该系列样品的结晶度，使颗粒均匀，空洞变少，晶粒尺寸由未掺杂时的约为2μm变化至掺杂量x=0．04时的约为1μm。四探针输运结果表明该系列样品的金属一绝缘体转变温度(T S-M)由未掺杂时的170K变化至掺杂量x=0．04时的72K。晶粒尺寸、阳离子有序、载流子浓度是影响Srs-xKxFeMoO6输运性质的重要因素。