文件名称：基于序进应力加速试验评价器件寿命的方法 (2007年)
文件大小：289KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-06-15 23:56:23
工程技术 论文
基于对序进应力加速寿命试验的研究，提出了一种快速确定半导体器件寿命的方法，建立了理论模型。以样品3CGl20为例，进行了175～345℃范围内的序进应力加速寿命试验，快速提取样品的失效敏感参数。IlFE的退化量与温度的关系，得到了样品的hFE的温度特性和退化特性，并根据模型计算得到器件的失效激活能和寿命。结果与文献能很好地吻合，验证了该方法的可行性。