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文件名称：FPGA中的空间辐射效应及加固技术
文件大小：268KB
文件格式：PDF
更新时间：2014-11-02 10:29:37
FPGA 辐射效应 加固
介绍空间辐射环境对造成的各种辐射效应及所需要采取的加固措施。不同类型
的中的辐射机理及加固措施有所不同。在基于反熔丝型中, 其辐射效应主要是介质的绝缘击穿, 加固措施主要是增加反熔丝厚度, 采用三模冗余等技术。在基于型中的辐射效应会造成配置失效, 加固措施主要是采用监测电路, 当配置发生错误时, 通过重新配置来恢复系统。