文件名称：详解集成电路测试工程
文件大小：2.72MB
文件格式：PDF
更新时间：2024-07-26 22:15:06
集成电路测试
随着微电子电路工程领域的出现和实质性的进步，电子产品在日常生活中的广泛应用才得以实现。可以在今天开发的微电子电路的类型在物理上小的封装内提供复杂的电路行为。诸如笔记本电脑，移动电话和个人数字助理（PDA）等高价值，高功能便携式电子系统的出现证明了这一点。自从1947年由贝尔实验室（美国）的Bardeen，Brattain和Shockley成功演示晶体管以来，半个多世纪以来，制造包含数百万个晶体管的微电子电路的能力是一项了不起的成就。随着设计复杂性和操作速度的提高，以及为了进一步降低产品成本而改进所使用的工程过程的需求，导致设备设计，制造和测试的所有方面的改进。本书旨在识别和讨论测试工程领域。