文件名称：基于FPGA的频率特性测试仪的设计 (2011年)
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更新时间：2024-05-28 20:33:26
工程技术 论文
为了更好地利用频率特性测试仪，也称扫频仪(FSI)，测量被测电路网络的幅频特性和相频特性，提出了一种基于 FPGA核心的新型频率特性测试仪设计方案。并在此基础上实现了测量500 Hz至125 kHz带宽的幅频特性和相频特性的功能，各项指标的仿真结果与实测结果高度吻合，与点频测量法相比较误差在5％以内，并在小型化，数字化，低功耗方面有所特色。