基于光电耦合的耐压绝缘测试系统设计

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文件名称：基于光电耦合的耐压绝缘测试系统设计

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更新时间：2024-05-06 09:44:39

 耐压绝缘测试；光电耦合；TLP521；单片机

应用集成光电耦合器TLP521-4，设计了一种基于光电耦合的耐压绝缘测试系统，详细说明了光电耦合隔离的耐压绝缘测试系统的设计思路和硬件电路结构。这种基于光电耦合的耐压绝缘测试系统具有抗电磁干扰强、成本低廉的优点，能极大提高测试系统的工作稳定性。