FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究 (2007年)

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文件名称：FPGA测试中故障屏蔽现象的分析和研究 (2007年)

文件大小：434KB

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更新时间：2024-05-18 02:39:09

工程技术 论文

通过对基于SRAM结构的FPGA测试方法进行分析和研究，提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象，并给出该现象的产生原因和判断条件，在此基础上，进一步提出相应的解决办法和建议，以避免或减少故障屏蔽现象的出现，提高测试FPGA的故障覆盖率。