ESD和EOS的原因、差异及预防.pdf

时间:2023-06-05 07:00:17
【文件属性】:

文件名称:ESD和EOS的原因、差异及预防.pdf

文件大小:7.72MB

文件格式:PDF

更新时间:2023-06-05 07:00:17

ESD EOS

在许多基于单片机的应用中,单片机都受到各类电磁噪 声的影响。电气噪声可能导致应用出现异常行为。其 中的两种噪声事件分别称为静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)和电过载(Electrical Overstress, EOS)。本应用笔记讨论了这两种事件、导致这些事 件的原因以及如何最大程度降低它们对应用的影响。


网友评论