文件名称：随机存取存储器故障分析及测试方案实现 (2010年)
文件大小：318KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-06-17 18:36:13
工程技术 论文
通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析，建立了RAM故障模型．在RAM故障模型的基础上，分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷，提出了改进的MARCH-C算法．该算法不但适用于面向位的测试，而且适用于面向字节或字的RAM测试．基于该算法，构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案．实验表明，RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性．