文件名称：椭圆偏振谱学法研究Ni(OH )2/NiOOH电极的性质 (2003年)
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更新时间：2024-06-12 02:10:55
自然科学 论文
应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法,研究了镍电极表面Ni( OH)2与Ni00H的相互转化,以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律,采用以光学参量变化速率(Vop )为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征Vop参量与表面膜厚度的变化率间存在密切关系,Vop反映了电极表面表面膜厚度的变化率。