文件名称:功耗测试思路与步骤详解.docx
文件大小:198KB
文件格式:DOCX
更新时间:2024-02-12 04:02:15
功耗测试
产品的功耗测试,一般分为芯片各支路功耗测试及整机功耗测试。 芯片各支路功耗测试,一是为了确认我们设计是否达到芯片所要求的规格,另一方面也为了降功耗设计,散热设计提供切实的数据。 整机功耗测试,则是为了产品规格书,输出具体的数据,对于由电池供电的产品,整机功耗低,产品的使用时间长,也可以增加我们的市场竞争力。
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功耗测试
产品的功耗测试,一般分为芯片各支路功耗测试及整机功耗测试。 芯片各支路功耗测试,一是为了确认我们设计是否达到芯片所要求的规格,另一方面也为了降功耗设计,散热设计提供切实的数据。 整机功耗测试,则是为了产品规格书,输出具体的数据,对于由电池供电的产品,整机功耗低,产品的使用时间长,也可以增加我们的市场竞争力。