实验三 集成门电路功能测试.pdf

时间:2023-04-04 06:29:44
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更新时间:2023-04-04 06:29:44

数字系统 数字系统实验

1.基本门电路的逻辑功能测试;观测输入输出端的逻辑值,测量出输出端对应的电压值。 2.逻辑门的转换:利用 74S00 与非门组成非门,2 输入与门,2 输入或门电路。 3.门电路的基本应用:测试用“异或”门和“与非”门组 成的半加器的逻辑功能。 4.测量与非门电压传输特性。


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