文件名称：VLSI 电路中时序分析的未来-研究论文
文件大小：312KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-06-29 23:30:20
Timing Analysis Pvt
随着 VLSI 技术缩小到纳米领域，片上变化变得更加不可预测。 他们需要对设计的Craft.io、电压和温度角进行更详细的建模和分析。 这些变化对较大的芯片没有明显影响，现在已经不可避免地变得显着，不容忽视。 本文概述了现有的时序分析方法并确定了它们的缺点。 讨论了对具有对所有片上变化进行建模的功能的集成时序分析工具的需求。 通过采用 PVT 感知时序分析工具，验证工程师可以在不影响结果质量的情况下实现更快的时序收敛。