论文研究-功率MMIC芯片加速寿命试验方法研究 .pdf

时间:2022-09-07 22:43:58
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更新时间:2022-09-07 22:43:58
微波技术 功率MMIC芯片加速寿命试验方法研究,周俊,高立,本文分析了单片微波集成电路(MMIC)芯片的主要失效模式和失效机理,其与MESFET等有源器件的主要失效模式和失效机理基本相似,并简要介

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