VLSI测试方法学和可测性设计

时间：2019-02-06 08:02:55
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文件名称：VLSI测试方法学和可测性设计

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更新时间：2019-02-06 08:02:55

VLSI 可测试性 DFT

一本很好的学习VLSI测试的书-- VLSI测试方法学和可测性设计

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网友评论

  • PDG文件，分为三部分，无法直接阅读
  • 资源不完整，无法解压，而且是从eetop上下载，各位避雷

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