文件名称：基于加速寿命试验的IGBT模块寿命预测和失效分析 (2013年)
文件大小：2.52MB
文件格式：PDF
更新时间：2024-07-02 14:06:47
自然科学 论文
针对IGBT可靠性分析与寿命预测问题,提出了一种利用加速寿命试验对IGBT模块使用寿命进行预测的新方法。论述了加速寿命试验的原理与方法,提出采用对数正态分布描述IGBT模块的寿命分布,以阿伦尼斯模型为基础,利用极大似然估计法对试验数据进行统计与分析,建立了IGBT模块的寿命预测模型,实现了对正常应力下模块寿命的科学估计,并对IGBT模块的失效机理进行了详细分析。结果表明,IGBT模块寿命服从对数正态分布,纠正了以往认为其服从Weibull分布的错误思想。随结温差和平均结温的增大,IGBT模块寿命逐渐减小,