文件名称：平板铁磁材料磁记忆检测特征分析 (2011年)
文件大小：1.05MB
文件格式：PDF
更新时间：2024-07-08 21:46:24
工程技术 论文
针对平板铁磁材料磁记忆检测问题,阐述了该技术对于直立圆柱体和水平圆柱体2种缺陷类型与磁场强度的对应关系,归纳了磁记忆检测的基本特征。使用俄罗斯TSC-1M-4型磁记忆检测仪,对含有水平圆柱体和直立圆柱体2种缺陷的平板铁磁材料进行了实验验证。结果表明,从重磁转化角度得出的磁场特征理论曲线能够正确反应出缺陷处磁场分布,与检测仪器测得结果也是吻合的。