JEDEC 22a108c高温电偏置寿命试验.pdf

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文件名称：JEDEC 22a108c高温电偏置寿命试验.pdf

文件大小：136KB

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更新时间：2024-04-20 12:03:29

JEDEC22a108c高温 半导体封装测试方法

JEDEC 22a108c美国固态及半导体技术委员会标准的半导体封装测试方法及种类要求。