文件名称:Spectroscopic Ellipsometry Principles and Applications
文件大小:13.59MB
文件格式:PDF
更新时间:2013-11-19 20:17:58
Spectroscopic Ellipsometry
介绍椭圆偏振光术测量的原理及其应用。主要涉及光在材料及薄膜表面反射后偏振状态变化及其测量的技术。
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Spectroscopic Ellipsometry
介绍椭圆偏振光术测量的原理及其应用。主要涉及光在材料及薄膜表面反射后偏振状态变化及其测量的技术。