文件名称:论文研究-基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计 .pdf
文件大小:418KB
文件格式:PDF
更新时间:2022-09-13 22:23:25
级联电压开关逻辑门
基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计,韩健,梁*,随着集成电路工艺进入微纳尺度,组合逻辑电路的软错误率不断增加,电路的可靠性受到严重威胁。现有的逻辑门加固结构通常会带来较
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级联电压开关逻辑门
基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计,韩健,梁*,随着集成电路工艺进入微纳尺度,组合逻辑电路的软错误率不断增加,电路的可靠性受到严重威胁。现有的逻辑门加固结构通常会带来较