论文研究-基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计 .pdf

时间:2022-09-13 22:23:25
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更新时间:2022-09-13 22:23:25

级联电压开关逻辑门

基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计,韩健,梁*,随着集成电路工艺进入微纳尺度,组合逻辑电路的软错误率不断增加,电路的可靠性受到严重威胁。现有的逻辑门加固结构通常会带来较


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