文件名称:影响偏振相关损耗PDL测量的重要因素.pdf
文件大小:381KB
文件格式:PDF
更新时间:2022-09-25 12:50:26
LabVIEW
偏振相关损耗 (PDL) 的测量对测量系统中的扰动极其敏感,这些扰动包括光源的不稳定性,连接器的反射,甚至是测试光纤的布局。
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偏振相关损耗 (PDL) 的测量对测量系统中的扰动极其敏感,这些扰动包括光源的不稳定性,连接器的反射,甚至是测试光纤的布局。