文件名称：基于数字图像处理技术的光学元件表面缺陷检测与分析
文件大小：2.72MB
文件格式：KDH
更新时间：2013-12-21 10:15:26
光学元件; 表面缺陷检测; 图像采集; 图像处理分析;
本课题开发了基于数字图像处理的光学元件表面缺陷检测系统,系统对于表面缺陷检测较之于目测法的可以实现精确,快速,可靠,以及数字化处理。 介绍了国内外精密光学元件表面缺陷的各种评价标准与级数设定,并介绍了表面缺陷的一些常用的检测方法。主要研究内容是开发一种应用于光学元件表面缺陷图像检测系统。硬件系统设计中的三维电控平移台及服务器处理系统用于控制图像的采集。