文件名称：相位噪声基础及相位噪声测试原理和方法-EDN 电子技术设计.pdf
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文件格式：PDF
更新时间：2023-05-19 10:27:54
相位噪声 原理 测试方法
随着电⼦技术的发展，器件的噪声系数越来越低，放⼤器的动态范围也越来越⼤，增益也⼤有提⾼，使得电路系统的灵敏度和选择性以及线性度等主要技术指标都得到较好的解决。同时，随着技术的不断提⾼，对电路系统⼜提出了更⾼的要求，这就要求电路系统必须具有较低的相位噪声，在现代技术中，相位噪声已成为限制电路系统的主要因素。低相位噪声对于提⾼电路系统性能起到重要作⽤。