半导体的检测与分析--XRD部分

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文件名称：半导体的检测与分析--XRD部分

文件大小：47.87MB

文件格式：PDF

更新时间：2015-11-17 08:40:48

XRD

介绍了半导体材料的高分辨X射线衍射的原理和基本的实验方法，诸如三晶衍射、倒易空间图，极图，略入射等