半实物硬件在环仿真测试.docx

时间:2024-07-13 07:26:55
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文件名称:半实物硬件在环仿真测试.docx

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更新时间:2024-07-13 07:26:55

软件测试 嵌入式

通用嵌入式系统测试平台(Embedded System Interface Test Studio,简称: ETest)是针对嵌入式系统进行实时、闭环、非侵入式测试的自动化测试平台,适用于嵌入式系统在设计、仿真、开发、调试、测试、集成验证和维护等各阶段配置项级别和系统级别的动态测试与验证。 ETest提供了针对嵌入式系统的半实物硬件在环仿真测试环境,通过模拟待测系统的外部环境并产生信号输入到待测系统,同时获取并分析待测系统的输出信号,实现针对嵌入式系统的自动化功能测试。 ETest具有适用范围广、通用性强、自动化测试程度高、扩展性好、携带方便、配置灵活、操作简单以及使用成本低等特点,能满足军事工业、工业控制、仪器仪表、汽车电子等各领域嵌入式系统的测试与验证需求。


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