热像非均匀校正原理

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文件名称：热像非均匀校正原理

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文件格式：DOC

更新时间：2021-12-29 15:43:23

非均匀校正 制冷 探测器 焦平面

热像仪系统红外辐射响应特性随着环境、场景温度的变化而变化，在同一环境温度下，热像仪系统对不同辐射强度的目标响应特性并非呈线性。