文件名称：VLSI测试技术详解.pdf
文件大小：5.36MB
文件格式：PDF
更新时间：2022-08-12 07:45:21
测试测量
VLSI电路的测试技术如今面临着许多激动人心和复杂的挑战。在大型系统嵌入单个片上系统（SOC）并制造的时代 不断缩小技术，确保整个系统的正确行为非常重要。今天的电子设计和测试工程师必须处理这些复杂的问题异构系统（数字，混合信号，存储器），但很少有可能以详细和深入的方式研究整个领域。本书提供了极其广泛的学科知识，详细介绍了基础知识，以及最新和最先进的知识概念。它是故障模拟，ATPG，内存测试，DFT和BIST基础知识的教科书。但是，它也是一个完整的可测试性指南，适用于想要学习DFT软错误保护，用于高速测试的逻辑内置自测（BIST），DRAM BIST，测试压缩，MEMS测试的最新进展的工程师，FPGA测试，RF测试等