文件名称：阶越反向恢复法测量PIN二极管少子寿命 (2004年)
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更新时间：2024-06-15 14:44:48
工程技术 论文
少子寿命是PIN二极管的重要参数，对二极管的正向压降和开关时间有很大的影响。阶越反向恢复法是常用的测试少子寿命方法之一。本文通过分析电荷控制方程得到了更精确的表达式，并用这种方法计算了储存电荷法的公式。表达式用MEDICI器件模拟软件进行了验证。结果表明与目前常用的方法相比，本文的方法具有更好的精确性，而且简单易行，适合实际应用。