nc-Si :H薄膜的微结构特征与光学特性 (2012年)

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文件名称：nc-Si :H薄膜的微结构特征与光学特性 (2012年)
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更新时间：2021-05-25 23:45:39
自然科学 论文 利用射频等离子体增强型化学气相沉积(RF-PECVD)工艺,以SiH4和H2作为反应气体源,在玻璃和石英衬底上制备了氢化纳米晶硅(nc-Si :H)薄膜.采用Raman散射谱、原子力显微镜(AFM)、透射光谱方法对在不同衬底温度与不同H2稀释比条件下沉积生长薄膜的微结构和光学特性进行了实验研究.结果表明,nc-Si :H薄膜的晶粒尺寸为2.6～7.0 nm和晶化率为45%～48% .在一定反应压强、衬底温度和射频功率下,随着H2稀释比的增加,薄膜的沉积速率降低,但晶化率和晶粒尺寸均有所增加,相应光学吸收系