基于STM32的线阵CCD尺寸测量系统 (2013年)

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文件名称：基于STM32的线阵CCD尺寸测量系统 (2013年)
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更新时间：2021-05-27 09:20:40
自然科学 论文 摘 要：为提高线阵CCD的测量精度，提出了一种以STM32为核心控制器的尺寸测量系统。采用STM32编程实现对线阵CCD的驱动，利用视频专用AD9826芯片中的相关采样等特殊功能实现对CCD输出信号的噪声处理和模数转换。文章详细阐述了系统中CCD驱动、抑制噪声的相关采样、亚像素定位的细分算法等关键技术的实现原理。该设计既简化了此类系统的硬件设计又便于调试控制参数、实现复杂的细分运算。