基于STM32的线阵CCD尺寸测量系统 (2013年)

时间:2024-06-16 03:07:20
【文件属性】:

文件名称:基于STM32的线阵CCD尺寸测量系统 (2013年)

文件大小:291KB

文件格式:PDF

更新时间:2024-06-16 03:07:20

自然科学 论文

摘 要:为提高线阵CCD的测量精度,提出了一种以STM32为核心控制器的尺寸测量系统。采用STM32编程实现对线阵CCD的驱动,利用视频专用AD9826芯片中的相关采样等特殊功能实现对CCD输出信号的噪声处理和模数转换。文章详细阐述了系统中CCD驱动、抑制噪声的相关采样、亚像素定位的细分算法等关键技术的实现原理。该设计既简化了此类系统的硬件设计又便于调试控制参数、实现复杂的细分运算。


网友评论