论文研究-安全扫描链设计探讨 .pdf

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更新时间：2022-09-08 04:26:52

微电子学与固体电子学

安全扫描链设计探讨，徐海君，，扫描链是广泛应用于数字集成电路中的可测试性设计结构之一，通过提高测试可观察性和测试可控制性的方法来提高测试覆盖率进而降低