论文研究-一种基于受控线性移位的测试向量生成方法 .pdf

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文件名称：论文研究-一种基于受控线性移位的测试向量生成方法 .pdf

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更新时间：2022-09-05 03:05:51

集成电路测试

一种基于受控线性移位的测试向量生成方法，刘铁桥，邝继顺，内建自测试(BIST) 作为研究应用最广泛的可测试性设计(DFT) 是解决复杂的VLSI测试问题的比较好的方法。BIST方案的关键在于测试向量产生器