文件名称：同济VLSI测试与容错课件
文件大小：6.3MB
文件格式：RAR
更新时间：2012-06-24 05:57:32
VLSI 测试与容错
同济大学计算机系内部英文课件VLSI测试与容错课件 CPU/VLSI系统 – 容错结构 – 高层次可靠性评估 – 测试
【文件预览】：
VLSI
----Lec08-TPG basics_Jiang.pdf(629KB)
----Lec11-testability measures.pdf(1.39MB)
----Lec19-JTAG standard.pdf(1.05MB)
----lec27-error detection.pdf(1.09MB)
----lec32-depend measures.pdf(1.32MB)
----lec34-analytic evaluation.pdf(1.45MB)
----Lec17-BIST intro 2.pdf(978KB)
----Lec04-concepts.pdf(1.29MB)
----lec29-modular redundancy.pdf(1.07MB)
----Lec06-test economics.pdf(569KB)
----Lec14-full scan.pdf(809KB)
----Lec10-fault sim.pdf(625KB)
----Lec12-TPG.pdf(766KB)
----lec03-fault modeling.pdf(454KB)
----Lec05-ATE.pdf(1.43MB)
----Lec16-BIST intro 1.pdf(1.12MB)
----Lec01-intro.pdf(290KB)
----lec02-failure mode.pdf(250KB)
----lec33-failure rate.pdf(612KB)
----Lec26-system test.pdf(789KB)
----Lec13-redundancy removal.pdf(418KB)
----Lec18-logic BIST arch.pdf(976KB)
----Lec15-partial scan.pdf(783KB)
----Lec09-logic sim.pdf(556KB)