文件名称:边界扫描介绍.doc(边界扫描(Boundary Scan))
文件大小:858KB
文件格式:DOC
更新时间:2022-10-31 20:25:04
JTAG BS
边界扫描的介绍,边界扫描与JTAG的关系“边界扫描(Boundary Scan)测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,微,薄发展,传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了,联合测试行为组织(Joint Test Action Group)简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。”