文件名称：硅片缺陷检测算法
文件大小：66.17MB
文件格式：ZIP
更新时间：2022-04-21 11:06:43
Ｓilico Defect Detect
硅片缺陷检测算法,包括程序代码和数据集，检测精度高．
【文件预览】：
SiliconWaferDefectDetection-master
----test.py(6KB)
----util()
--------crack_wzh.py(5KB)
--------__init__.py(0B)
--------cv_wzh.py(17KB)
--------data_wzh.py(4KB)
----info.log(1KB)
----README.md(1KB)
----data()
--------Semilab261151217B-1969_Defect004.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-797_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-1969_Defect002.bmp(40KB)
--------Semilab219151216C-713_0.bmp(16MB)
--------Semilab219151216C-218_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab250151210E-254_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-797_0.bmp(16MB)
--------Semilab261151217B-1457_Defect002.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-1969_Defect003.bmp(40KB)
--------Semilab219151216C-218_0.bmp(16MB)
--------Semilab219151216C-713_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-1969_0.bmp(16MB)
--------Semilab250151210E-254_0.bmp(16MB)
--------Semilab261151217B-1457_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-1969_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab261151217B-1457_0.bmp(16MB)
--------Semilab250151210E-70_Defect001.bmp(40KB)
--------Semilab250151210E-70_0.bmp(16MB)