光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程解读 (2007年)

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文件名称：光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程解读 (2007年)

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更新时间：2024-05-18 12:05:19

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简要介绍光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程的构成，被检测量仪器的技术指标、主要检定参数和检定方法等。该规程适用于光谱椭偏法测量光学薄膜折射率和厚度的仪器，在从事光学薄膜研究、生产和使用的单位具有广泛的应用前景。