论文研究-芯片条状并行测试研究 .pdf

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文件名称：论文研究-芯片条状并行测试研究 .pdf
文件大小：448KB
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更新时间：2022-09-05 10:39:45
大规模集成电路 芯片条状并行测试研究，唐昊，，本文围绕集成电路测试环节，以提高测试生产效率为目的，通过测试原理分析，总结测试硬件设备要求，测试软件环境设置，生产环节中