文件名称：利用夹角余弦和聚类分析的电离层TEC混沌预测 (2014年)
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更新时间：2024-05-30 10:50:06
工程技术 论文
利用120°E、45°N上空的2008年年积日101～150 d时间段内共600个电离层格网TEC数据，分析了该点上空电离层TEC参数的混沌特性，发现其关联维数为2．2632，嵌入维数m=5，最大Lyapunov指数为0．0833，该TEC时间序列具有混沌的特征，存在混沌现象。利用加权一阶局域法对TEC时间序列进行预测时，提出了利用夹角余弦和聚类分析方法对相似相点进行选择的方法，结果表明，在5维相空间中，该方法除在第4分向量略不及欧氏距离和夹角余弦方法外，其余4个分向量均优于后两种方法。利用该方法选择的相