文件名称：U盘坏块、扩容、读写速度检测软件
文件大小：443KB
文件格式：RAR
更新时间：2013-04-30 18:32:01
U盘 芯片检测 扩容 h2testw 检测
U盘、SSD、各种存储卡等都是采用Flash半导体芯片作为存储介质的，目前大部分的半导体存储设备都是采用MLC Flash芯片，相对来说更容易出现坏块，引起读写错误，从而导致重要数据损坏或设备工作不正常。h2testw是德国人写的一个windows下免费的Flash坏块检测软件，可以检测目前所有的半导体存储设备的坏块情况，该软件通过向选择的目录内写入自行产生的单个最大1G的文件然后读出校验的方式确定坏块，准确性不容怀疑；同时，该软件还能测试存储设备的实际读写速度
【文件预览】：
芯片测试
----h2testw.exe(409KB)
----h2testw图文教程.doc(315KB)