GB∕T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度.pdf 时间:2023-07-30 05:10:46 【文件属性】: 文件名称:GB∕T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度.pdf 文件大小:1.82MB 文件格式:PDF 更新时间:2023-07-30 05:10:46 半导体 器件 GB∕T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度.pdf 立即下载