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文件名称：Zn1-x Co x O晶体薄膜结构和铁磁特性 (2008年)
文件大小：347KB
文件格式：PDF
更新时间：2021-05-23 00:10:22
自然科学 论文
利用电子束反应蒸发法（REBE）在Si和石英玻璃衬底上生长Zn1-x Cox O晶体薄膜，衬底温度分别为250、350和500 ℃。对晶体的微结构特性进行研究，X-射线衍射（XRD）结果表明Zn1-x Co x O晶体薄膜在250℃有高度的c-轴取向；而且随着温度升高，出现更明显的多晶峰且峰值强度越来越强。紫外一可见光（UV-VIS）测量结果说明Co离子虽然部分替代Zn离子进入ZnO晶格里面，但并没有改变ZnO的纤锌矿结构。利用物理特性测量系统（PPMS）测得Zn1-x Co x O晶体薄膜M-H和M-T