Sigrity Power SI 3D-EM Full Wave Spatial模式如何查看空间电压频域曲线操作指导
Sigrity Power SI 3D-EM Full Wave Spatial模式主要应用是在电流源(噪声)的激励下观测3D结构（如射频芯片、芯片RDL、封装或PCB）的远场辐射和近场分布，同时也可以观测平面间的电压频域曲线。
本质上和2D noise coupling analysis类似，也是用于观测电源和地平面的噪声波动，相比2D多了观测远场辐射和近场分布的功能
以下图为例进行说明