在学习STM32时，我们经常会遇到JTAG和SWD的调试方法，还涉及到Jlink,Ulink,Stlink等，
JTAG和SWD是ARM板一种调试模式.
后面三种都是实现这种模式的一种工具，他们之间的区别简单归纳如下。
第一种调试方式JTAG，JTAG的全称是Joint Test Action Group (测试行动联合组织)，它是由几家主要电子制造商发起制订的PCB 和IC 测试标准，主要应用于电路的边界扫描测试和可编程芯片的在线系统编程。
标准的JTAG接口是4线:JTAGTMS–模式选择、TCK–时钟、TDI–数据输入、TDO–数据输出，在设计PCB时，还要考虑到是否需要利用JTAG接口给MCU供电。
第二种调试方式SWD，全称是Serial Wire Debug(串行调试)，它的接线方式较JTAG简单，2线式：SWDIO–串行数据线、SWDCLK–串行时钟线，一般在设计PCB时，会预留4个2.54mm的排座，这种接线方式适合引脚少的芯片，充分利用芯片资源。
以上两种调试方法比较，各自有优势。1）SWD模式比JTAG在高速模式下更加可靠，在大数据量的情况下JTAG下载程序会失败，但是SWD发生的几率会小很多，基本使用JTAG的模式下可以直接使用SWD模式的，前提是仿真器支持。2）在GPIO口刚好缺一个的时候，可使用SWD仿真，这种模式支持更少的引脚；3）在PCB设计体积有限的时候推荐使用SWD模式。
更多细节可参考http://news.eeworld.com.cn/mcu/2018/ic-news121542504.html