BFM应该描述的是具有某种具体功能的电路。比如说，你的待测电路是一个智能卡，那他的BFM就是读卡器；那你就要根据协议，在BFM中描述出读卡器的具体行为。
写BFM就类似于写testbench了。BFM里面有需要主动触发的动作，以及被动接受的动作。主动触发的动作，你写成task，
这样方便在testcase中调用。被动触发的动作，你在BFM里面直接写成电路就可以了。当然你可以灵活处理。
以下是闲话：
我觉得你可能不知道怎末对电路写测试。
我认为测试分为两部分：1 功能分析；2 testbench编写
1 功能分析
你在编写测试之前，要仔细分析电路有哪些功能，并对这些功能分类。哪些是必须测的（must），哪些是应该测的（should），
哪些是最好测的（Nice to do）。然后，你将功能相近的feature分为一类，你可以用一个testcase来测试。
2 testbench
当testcase分类完毕，你就开始琢磨怎么写testbench了。testbench要能够提供所有激励，并且能够将激励传播到待测电路中，而且能够侦测错误。
另外，测试编写完毕了，测试通过了并不是就万事大吉了。通常，有些东西是工程师没想到的问题，而导致测试不全面。
这些就需要我们不断扩大知识面了。要特别提醒的是复位测试，复位和时钟的配合，跨时钟域的处理等。
啰嗦了一大堆，希望对你有点帮助。